半导体器件崎岖温测试装备

应用于元器件的特征剖析、崎岖温温变测试、温度攻击测试、失效剖析等可靠性试验

此类装备解决古板崎岖温箱无法知足的局部测试要求,装备移动利便、适合对众多元器件的某个单个元器件或具有平展外貌且结构扁平器件的崎岖温测试

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